Modeling of Transients on IC Supply Rails Caused by ESD During Operation

Ungru, Thomas; Wilkening, Wolfgang; Negra, Renato (Corresponding author)

New York, NY : IEEE (2016, 2017)
Fachzeitschriftenartikel

In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility
Band: 59
Heft: 3
Seite(n)/Artikel-Nr.: 9 Seiten

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