Laborausstattung

  Lab Urheberrecht: © Achim Noculak

Für die Charakterisierung von Bauelementen und integrierten Schaltungen der Hochfrequenztechnik steht am Lehrstuhl für Höchstfrequenzelektronik eine umfangreiche und vielseitige Messtechnikumgebung zur Verfügung.

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+49 241 80-24641

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Folgende Messverfahren sind verfügbar:

  • S-Parameter-Netzwerkanalyse, bis zu vier Tore, bis 70 GHz
  • Umfangreiche DC-Quellen für die Groß- und Kleinsignal-Charakterisierung aktiver Schaltreise
  • Nichtlineare Netzwerkanalyse (u.a. X-Parameter)
  • Gepulste DC- und S-Parameter-Messungen bis 50 GHz
  • Drei On-Wafer-Messplätze für passive und aktive Bauelemente und Schaltungen, bis vier Tore
  • Signal-Generatoren und –Analysatoren für alle Basisband und digitalen Wireless-Standards mit bis zu 1 GHz I/Q-Modulationsbandbreite
  • V- und E-Band Konvertermodule zur Charakterisierung von Sender- und Empfängerschaltungen zwischen 57-64 GHz bzw. 81-86 GHz
  • Mischer Charakterisierung bis 67 GHz
  • Spektrumanalyse bis 75 GHz
  • Load-Pull für gehäuste Bauelemente und On-Wafer bis 18 GHz
  • Sampling-Oszilloskop bis 50 GHz
  • HF-Rauschmessungen sowie Phasenrauschcharakterisierung
 

Die Messtechnik kommt im Rahmen der Forschungs- und Projektarbeiten und auch zur prozessbegleitenden Kontrolle zum Einsatz. Eine Photolithografie gibt dem Lehrstuhl zusätzlich die Möglichkeit kurzfristig selbst entworfen Hochfrequenz-Schaltungen auf beliebigen Substraten herzustellen. Im dem Labor angeschlossenen Werkstattbereich können die Platinen und mit SMD oder bedrahteten Bauteilen bestückt werden.

 

Geräteliste

Active On-Waver 3 Tor Messung Urheberrecht: © Achim Noculak
  • Nichtlinearer Vektornetzwerkanalysator 4-Tor PNA-X67, 10 MHz-67 GHz
  • Vektornetzwerkanalysator 4-Tor ZVA50, 10 MHz–50 GHz
  • Signal- und Spektrumanalysator R&S FSW26, 2 Hz-26.5 GHz
  • Spektrumanalysator HP 9 kHz-40 GHz
  • Infiniium DCA Breitband Oszilloskop, 50 GHz
  • Load-Pull System Focus Microwave, 900 MHz-18 GHz
  • Pulsed Modeling System Agilent 85124A E56
  • Wafer Probestation Cascade Microtec M150
  • Wafer Probestation SÜSS PM5
  • Vektorsignalgenerator R&S SMBV100A, 9 kHz-6 GHz
  • Digitales Sampling Oszilloskop Tektronix DSA70604
  • Spektrumanalysator HP 8722C, 50 MHz-40 GHz
  • Vektornetzwerkanalysator Wiltron 360B, 40 MHz-65 GHz