Laborausstattung

  Lab Urheberrecht: Achim Noculak

Für die Charakterisierung von Bauelementen und integrierten Schaltungen der Hochfrequenztechnik steht am Lehrstuhl für Höchstfrequenzelektronik eine umfangreiche und vielseitige Messtechnikumgebung zur Verfügung.

Ansprechpartner

Name

Achim Noculak

Laboringenieur

Telefon

work
+49 241 80 24641

E-Mail

E-Mail
 

Folgende Messverfahren sind verfügbar:

  • S-Parameter-Netzwerkanalyse, bis zu vier Tore, bis 70 GHz
  • Umfangreiche DC-Quellen für die Groß- und Kleinsignal-Charakterisierung aktiver Schaltreise
  • Nichtlineare Netzwerkanalyse (u.a. X-Parameter)
  • Gepulste DC- und S-Parameter-Messungen bis 50 GHz
  • Drei On-Wafer-Messplätze für passive und aktive Bauelemente und Schaltungen, bis vier Tore
  • Signal-Generatoren und –Analysatoren für alle Basisband und digitalen Wireless-Standards mit bis zu 1 GHz I/Q-Modulationsbandbreite
  • V- und E-Band Konvertermodule zur Charakterisierung von Sender- und Empfängerschaltungen zwischen 57-64 GHz bzw. 81-86 GHz
  • Mischer Charakterisierung bis 67 GHz
  • Spektrumanalyse bis 75 GHz
  • Load-Pull für gehäuste Bauelemente und On-Wafer bis 18 GHz
  • Sampling-Oszilloskop bis 50 GHz
  • HF-Rauschmessungen sowie Phasenrauschcharakterisierung
 

Die Messtechnik kommt im Rahmen der Forschungs- und Projektarbeiten und auch zur prozessbegleitenden Kontrolle zum Einsatz. Eine Photolithografie gibt dem Lehrstuhl zusätzlich die Möglichkeit kurzfristig selbst entworfen Hochfrequenz-Schaltungen auf beliebigen Substraten herzustellen. Im dem Labor angeschlossenen Werkstattbereich können die Platinen und mit SMD oder bedrahteten Bauteilen bestückt werden.

 

Geräteliste

Active On-Waver 3 Tor Messung Urheberrecht: Achim Noculak
  • Nichtlinearer Vektornetzwerkanalysator 4-Tor PNA-X67, 10 MHz-67 GHz
  • Vektornetzwerkanalysator 4-Tor ZVA50, 10 MHz–50 GHz
  • Signal- und Spektrumanalysator R&S FSW26, 2 Hz-26.5 GHz
  • Spektrumanalysator HP 9 kHz-40 GHz
  • Infiniium DCA Breitband Oszilloskop, 50 GHz
  • Load-Pull System Focus Microwave, 900 MHz-18 GHz
  • Pulsed Modeling System Agilent 85124A E56
  • Wafer Probestation Cascade Microtec M150
  • Wafer Probestation SÜSS PM5
  • Vektorsignalgenerator R&S SMBV100A, 9 kHz-6 GHz
  • Digitales Sampling Oszilloskop Tektronix DSA70604
  • Spektrumanalysator HP 8722C, 50 MHz-40 GHz
  • Vektornetzwerkanalysator Wiltron 360B, 40 MHz-65 GHz